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MORE+微儀光電(天津)有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究,新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團隊。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機分析系統(tǒng)及機械自動化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺式掃描電鏡,掃描電鏡,臺式掃描電鏡能譜一體機,sem掃描電鏡,原位掃···
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NEWS
2024-11-22
SEM掃描電鏡用到的技術(shù)有那些
SEM(掃描電鏡,Scanning Electron Microscope)掃描電鏡用到的技術(shù)主要包括以下幾個方面:一、基本原理技術(shù) 掃描電鏡是利用高能電子束掃描樣品表面,并通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號來獲得樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的成像工具。其成像原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用,包括:...
MORE2024-11-21
SEM掃描電鏡沒有圖像怎么解決
掃描電鏡沒有圖像的問題可能涉及多個方面,以下是一些可能的解決方案:一、檢查電子束 電子束產(chǎn)生:確認(rèn)電子槍是否正常工作,電子束是否成功產(chǎn)生。檢查電子束的聚焦和掃描是否正常,可以通過觀察電子束在樣品上的掃描軌跡來判斷。...
MORE2024-11-20
科研級的SEM掃描電鏡有那些特殊的優(yōu)點
科研級的SEM(掃描電子顯微鏡)掃描電鏡具有一系列特殊的優(yōu)點,使其成為科研分析、產(chǎn)品質(zhì)量控制等領(lǐng)域的重要工具。以下是對其特殊優(yōu)點的歸納:高分辨率:掃描電鏡的分辨率通??梢赃_(dá)到納米級別,遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡。新式的SEM掃描電鏡分辨率甚至可以達(dá)到1納米或更低,使得研究者能夠深入了解被掃描物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)。...
MORE2024-11-19
SEM掃描電鏡必掌握的關(guān)鍵點分享
掃描電鏡作為一種高性能成像工具,在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保能夠充分發(fā)揮SEM掃描電鏡的潛力并獲得高質(zhì)量的圖像,以下是一些必須掌握的關(guān)鍵點:一、掃描電鏡的基本原理與構(gòu)造 基本原理:SEM掃描電鏡利用聚焦電子束對樣品表面進(jìn)行掃描,通過收集樣品在電子束作用下產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號,形成樣品表面的形貌像。...
MORE2024-11-18
SEM掃描電鏡的主要操作過程介紹
掃描電鏡的主要操作過程可以歸納為以下幾個步驟:一、開機與準(zhǔn)備 接通電源:確認(rèn)掃描電鏡及其附屬設(shè)備(如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng))處于正常工作狀態(tài)。在電鏡基座的前面板上找到綠(ON)、黃(STANDBY)、紅(OFF)三個按鈕,按紅鈕使電鏡通電。...
MORE2024-11-15
SEM掃描電鏡能觀察那些樣品
掃描電鏡是一種功能強大的顯微鏡技術(shù),能夠觀察和分析多種類型的樣品。以下是一些SEM掃描電鏡可以觀察的樣品類型及其相關(guān)應(yīng)用:一、材料科學(xué)領(lǐng)域 金屬材料:掃描電鏡可用于觀察合金的晶粒結(jié)構(gòu)和相界面,幫助優(yōu)化合金成分和制造工藝,提高材料強度和耐腐蝕性。此外,還可以分析金屬表面的腐蝕情況,從而幫助改進(jìn)防腐蝕涂層的設(shè)計。陶瓷材料:通過SEM掃描電鏡可以分析陶瓷材料的微觀裂紋和孔隙,改進(jìn)燒結(jié)工藝和配方,增強陶瓷的硬度和韌性。...
MORE2024-11-14
SEM掃描電鏡操作失誤怎么辦
在使用掃描電鏡時,若發(fā)生操作失誤,首先需要冷靜下來,不要慌張,然后按照以下步驟進(jìn)行應(yīng)對:一、識別問題 觀察現(xiàn)象: 注意顯示屏上的圖像是否異常,如模糊、漂移、失真等。檢查設(shè)備是否有報警或錯誤提示。...
MORE2024-11-13
SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛,它以其高分辨率和多功能性成為研究金屬材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的重要工具。以下是對SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、金屬材料微觀組織分析 掃描電鏡可用于觀察金屬材料的微觀組織,包括晶粒結(jié)構(gòu)、相界面、析出物等。通過SEM掃描電鏡圖像,研究人員可以清晰地看到金屬材料的晶粒形態(tài)、大小和分布,以及不同相之間的界面關(guān)系。...
MORE2024-11-12
SEM掃描電鏡不能檢測那些樣品
掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微技術(shù),在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。然而,SEM掃描電鏡也存在一些限制,以下是一些掃描電鏡通常無法直接檢測的樣品類型及相關(guān)注意事項:液體樣品:SEM掃描電鏡需要在真空條件下運行,而液體會在真空狀態(tài)下迅速蒸發(fā),因此無法直接對液體樣品進(jìn)行測試。若需要對液體樣品進(jìn)行分析,通常需要將其轉(zhuǎn)化為固體形態(tài),如通過干燥、冷凍等方法處理后再進(jìn)行測試。...
MORE2024-11-11
SEM掃描電鏡可以進(jìn)行哪些試驗
是一種利用高能電子束與樣品相互作用而得到顯微圖像的儀器,其分辨率高,能夠觀察到更小尺寸的樣品表面細(xì)節(jié)。SEM掃描電鏡可以進(jìn)行的試驗項目非常廣泛,主要包括以下幾個方面:一、表面形貌觀察 掃描電鏡可以觀察各種材料的表面形貌,如金屬、陶瓷、聚合物、纖維和生物材料等。通過SEM掃描電鏡,可以清晰地看到樣品表面的微觀結(jié)構(gòu),如晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、纖維結(jié)構(gòu)等。...
MORE2024-11-08
為什么要使用SEM掃描電鏡
掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope),之所以被廣泛使用,主要歸因于其在微觀結(jié)構(gòu)觀察和成分分析方面的獨特優(yōu)勢。以下是使用SEM掃描電鏡的主要原因:一、高分辨率成像 掃描電鏡利用電子束而非光子進(jìn)行成像,因此具有比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡更高的分辨率。...
MORE2024-11-07
SEM掃描電鏡的小知識點介紹
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)是一種介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的微觀形貌觀察手段,以下是關(guān)于SEM掃描電鏡的一些小知識點介紹:一、掃描電鏡的基本構(gòu)造 SEM掃描電鏡主要由電子槍、電子透鏡、掃描系統(tǒng)、電子收集系統(tǒng)(形貌分析)、成像熒光屏以及X射線接收系統(tǒng)(成分分析)等部件組成。...
MORE2024-11-06
SEM掃描電鏡的五大應(yīng)用介紹
掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中。以下是SEM掃描電鏡的五大應(yīng)用領(lǐng)域介紹:一、材料科學(xué) 在材料科學(xué)領(lǐng)域,掃描電鏡主要用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和形貌。通過SEM掃描電鏡,可以詳細(xì)分析金屬、陶瓷、聚合物等材料的晶粒、相界面、缺陷和裂紋等細(xì)節(jié)。...
MORE2024-11-05
SEM掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別介紹
SEM掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)與透射電鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)在顯微成像領(lǐng)域都具有重要地位,但它們在多個方面存在顯著差異。以下是對兩者區(qū)別的詳細(xì)介紹:一、使用目的與成像原理 SEM掃描電鏡:使用目的:主要用于觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)特征,具有高分辨率、表面顯微形態(tài)和形貌的非破壞性檢測能力。...
MORE2024-11-04
SEM掃描電鏡如何觀察液體樣品
掃描電鏡是在真空環(huán)境下工作的,而液體樣品在真空環(huán)境下會迅速蒸發(fā),并在樣品表面形成氣泡,導(dǎo)致圖像模糊不清。此外,液體樣品的高水分含量還會導(dǎo)致電子束的衍射和散射,進(jìn)一步影響圖像質(zhì)量。因此,傳統(tǒng)的SEM掃描電鏡無法直接拍攝液體樣品。然而,通過一些特殊的技術(shù)和處理方法,可以在一定程度上克服這些限制,實現(xiàn)對液體樣品的觀察和成像,具體方法如下:...
MORE2024-11-01
SEM掃描電鏡對樣品有那些要求
掃描電鏡對樣品的要求主要包括以下幾個方面:一、導(dǎo)電性 導(dǎo)電樣品:SEM掃描電鏡成像依賴于電子束與樣品表面的相互作用,因此樣品的導(dǎo)電性非常重要。導(dǎo)電樣品(如金屬)可以直接進(jìn)行觀察,因為它們能夠有效地防止電子積累,減少電荷效應(yīng)。...
MORE2024-10-31
SEM掃描電鏡粉末樣品如何制備
掃描電鏡粉末樣品的制備過程需要精細(xì)操作以確保獲得高質(zhì)量的圖像和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),以下是具體的制備步驟:一、準(zhǔn)備階段 選擇適當(dāng)?shù)膶?dǎo)電膠帶:通常使用碳導(dǎo)電膠帶或金屬膠帶(如銅、鋁膠帶)作為粉末樣品的載體,這些膠帶具有良好的導(dǎo)電性,有助于減少樣品在電子束照射下的荷電效應(yīng)。...
MORE2024-10-30
SEM掃描電鏡在橡膠領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在橡膠領(lǐng)域中的應(yīng)用十分廣泛,以下是對其應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、SEM掃描電鏡的基本原理 掃描電鏡是一種利用電子束對樣品表面進(jìn)行掃描的高分辨率顯微鏡。它通過將電子束聚焦到樣品表面上,并將樣品表面反射的次級電子和背散射電子轉(zhuǎn)換成圖像,從而觀察樣品表面的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和成分等信息。...
MORE2024-10-29
SEM掃描電鏡在微電子工業(yè)行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用
掃描電鏡在微電子工業(yè)行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛,主要體現(xiàn)在以下幾個方面:一、質(zhì)量控制與失效分析 質(zhì)量控制:SEM掃描電鏡可用于檢查微電子產(chǎn)品的原材料和成品的質(zhì)量,確保產(chǎn)品的物理特性符合標(biāo)準(zhǔn)。...
MORE2024-10-28
SEM掃描電鏡在實驗中起到了什么作用
掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope),在實驗中起到了至關(guān)重要的作用。它利用電子束掃描樣品表面,通過收集二次電子、背散射電子等信號來產(chǎn)生圖像,從而揭示樣品的微觀形貌和結(jié)構(gòu)信息。以下是SEM掃描電鏡在實驗中的具體作用:一、高分辨率成像 掃描電鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu),提供清晰、細(xì)致的圖像。這使得研究人員能夠觀察到樣品表面的微小細(xì)節(jié),如顆粒大小、形態(tài)、表面粗糙度等,從而更深入地了解樣品的性質(zhì)。...
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